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光学各向异性测量系统

2-MGEM 光学各向异性测量系统获可通过测垂直入射的偏振反射来得到样品的穆勒矩阵,该产品获得2008 R&D 100 Award。
主要用来测包覆核燃料的热解碳层横截面的光学各向异性因子,其他晶体、碳化合物以及薄膜涂层的穆勒矩阵。此外还可测量延迟量 ,circular diattenuation (CD) 以及偏振因子.
不同于早前的测试技术,该系统没有用到额外的光学补偿元件。