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磁光克尔效应跟踪仪

Hinds Instruments 公司的新型磁光克尔效应测量系统可以用来绘制磁性薄膜材料的磁滞回线。通光光弹调制技术,该系统可以提供科研级别的极高测量精度
产品特点
• 极高重复精度最高的测量系统
• 同时测量显示椭偏率和偏转角
• 高速测量磁滞回线
• 光学测量,样品无损
• 区别于旋转波片等手段,光路固定,测量稳定。
 
参数:
• 光源:635 nm laser diode
• 光弹性调制器技术
• 磁场:电磁场
• 最大磁场:+/- 2400 Gauss (0.24T)
•霍尔探头探测
•磁场探测精度:0.5GS
•Sample size: 30 mm X 30 mm

 

•Size (footprint): 12 in x 31 in (305 mm x 787 mm)